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GD-NIR512L2-CD 단파장 적외선 InGaAs 선형 배열 센서는 높은 감도, 낮은 노이즈 및 낮은 암 전류의 특성을 가지고 있습니다. 이 센서는 InGaAs 광전지 배열 칩과 CMOS 신호 처리 회로 칩으로 구성되어 있으며 인듐(In) 볼록 점 배열을 통해 도전적으로 연결되며 농산물 검출, 산업 검출, 광전자 검출 등 다양한 분야에서 널리 사용될 수 있습니다.
센서는 두 개의 독립적인 1X512 구조 회로로 구성되어 있으며 각각 512개의 고무 채널을 포함하고 있습니다. 각 채널에는 전하 증폭 회로, CDS 이득 회로, 홀드 회로, 열 버퍼 회로 및 제어 회로 논리가 포함되어 있습니다. 입력 스테이지는 다단계 전하-전압 변환 이득을 가진 CTIA 구조를 채택하며, 방전 저항 및 상관 이중 샘플링(CDS) 노이즈 저감 기능을 지원하며 냉각 및 비냉각 두 가지 형태를 지원합니다.
| 매개변수&인덱스 | |
| 기술 사양 매개변수 | 기술 사양 인덱스 |
| 장치 유형 | InGaAs p-on-n 타입 |
| 배열 규모 | 2X512 |
| 픽셀 크기 | 25umX25um |
| 광전도성 면적 크기 | 0.05mmX12.8mm |
| 포장 형태 | 32-DIP 세라믹 케이스 수지 패키징 |
| 광전자 특성 @ 22±3°C | |
| 최대 선 주파수 | 20kHz |
| 최대 픽셀 읽기 속도 | 14KHz |
| 적분 시간 | ≥10us 10마이크로초 이상 |
| 스펙트럼 반응 범위 | 0.92~1.65um |
| 리드아웃 노이즈 | ≤60e(RMS)@10KHz, 고 이득 |
| 동적 대기 | ≥60dB |
| 전기적 특성 | |
| 작동 온도 범위 | -20° C~+60° C |
| 최대 작동 전력 소비 | 300mW |
| 화소 편향 범위 | -0.5V~0V |
| ESD 정전기 방지 수준 | 800V~1000V |
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